吸收軸角度測試對AR/VR用偏光元件的質(zhì)量控制至關(guān)重要。相位差測量儀通過旋轉(zhuǎn)分析器法，可以精確測定微結(jié)構(gòu)偏光膜的吸收軸方向，角度分辨率達(dá)0.01度。這種測試能有效避免偏光膜貼附時的角度偏差導(dǎo)致的圖像對比度下降。當(dāng)前研發(fā)的全自動測試系統(tǒng)整合了機(jī)器視覺定位，可在30秒內(nèi)完成單個模組的測量。在OLED微顯示器配套偏光片的檢測中，吸收軸測試還能評估高溫高濕環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。此外，該方法為開發(fā)超薄寬波段偏光膜提供了關(guān)鍵的性能驗證手段。

橢圓度測試是評估AR/VR光學(xué)系統(tǒng)偏振特性的重要手段。相位差測量儀采用旋轉(zhuǎn)分析器橢偏術(shù)，可以精確測定光學(xué)元件引起的偏振態(tài)橢圓率變化。這種測試對評估光波導(dǎo)器件的偏振保持性能尤為重要，測量動態(tài)范圍達(dá)0.001-0.999。系統(tǒng)采用同步檢測技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，適合產(chǎn)線環(huán)境使用。在多層抗反射膜的檢測中，橢圓度測試能發(fā)現(xiàn)各向異性導(dǎo)致的偏振失真。當(dāng)前的多視場測量方案可一次性獲取中心與邊緣區(qū)域的橢圓度分布。此外，該數(shù)據(jù)還可用于建立光學(xué)系統(tǒng)的偏振像差模型，指導(dǎo)成像質(zhì)量優(yōu)化。