環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）允許在樣品室中保持一定的氣體環(huán)境，對金屬材料進行原位觀察。在金屬材料的腐蝕研究中，可將金屬樣品置于 ESEM 的樣品室內，通入含有腐蝕性介質的氣體，實時觀察金屬在腐蝕過程中的微觀結構變化，如腐蝕坑的形成、擴展以及腐蝕產(chǎn)物的生長等。在金屬材料的變形研究中，可在 ESEM 內對樣品施加拉伸或壓縮載荷，觀察材料在受力過程中的位錯運動、裂紋萌生和擴展等現(xiàn)象。ESEM 的原位觀察功能為深入了解金屬材料在實際環(huán)境和受力條件下的行為提供了直觀的手段，有助于揭示材料的腐蝕和變形機制，為材料的性能優(yōu)化和失效預防提供科學依據(jù)。?

輝光放電質譜（GDMS）技術能夠對金屬材料中的痕量元素進行高靈敏度分析。在輝光放電離子源中，氬離子在電場作用下轟擊金屬樣品表面，使樣品原子濺射出來并離子化，然后通過質譜儀對離子進行質量分析，精確測定痕量元素的種類和含量，檢測限可達 ppb 級甚至更低。在半導體制造、航空航天等對材料純度要求極高的行業(yè)，GDMS 痕量元素分析至關重要。例如在半導體硅材料中，痕量雜質元素會嚴重影響半導體器件的性能，通過 GDMS 精確檢測硅材料中的痕量雜質，可嚴格控制材料質量，保障半導體器件的高可靠性和高性能。在航空發(fā)動機高溫合金中，痕量元素對合金的高溫性能也有影響，GDMS 分析為合金成分優(yōu)化提供了關鍵數(shù)據(jù)。